基于雙色光源分離技術(shù)檢測(cè)高反光無間隙焊縫的傳感器
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011627984.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112857213A | 公開（公告）日 | 2021-05-28 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112857213A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-28 |
| 分類號(hào) | G01B11/00(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 鄭恩松;臧同樂;王艷輝;李保陽 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 佛山英智萊科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京眾達(dá)德權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 徐彥圣 |
| 地址 | 528300廣東省佛山市順德區(qū)樂從鎮(zhèn)嶺南大道南2號(hào)中歐F棟4層425室（住所申報(bào)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了基于雙色光源分離技術(shù)檢測(cè)高反光無間隙焊縫的傳感器，包括圖像傳感器，所述圖像傳感器的正下方設(shè)有鏡頭，所述圖像傳感器的一側(cè)設(shè)有面光源，所述面光源遠(yuǎn)離所述圖像傳感器的一側(cè)設(shè)有線激光器，所述鏡頭的下方設(shè)有工件，所述線激光器的激光發(fā)射端形成有光平面；通過采用線激光器與面光源照射到工件表面后反射，通過鏡頭照射到CMOS圖像傳感器的拜爾陣列濾鏡后，投射到CMOS圖像傳感器的感光陣列上，經(jīng)過拜爾陣列進(jìn)行過濾，使得成像后得到的RAW圖像經(jīng)過三通道分離后，可以得到兩幅不同光源的圖像，實(shí)現(xiàn)對(duì)兩種光照成像的分離，再通過圖像處理技術(shù)，對(duì)兩幅圖像處理后，進(jìn)行結(jié)果合成，達(dá)到測(cè)量無間隙拼縫位置測(cè)量的目的。?? |
