支持DRAMx16顆粒的測試方法及裝置、DRAM存儲器的測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> 2020111931040 申請日 -
公開（公告）號 CN112270948A 公開（公告）日 2021-01-26
申請公布號 CN112270948A 申請公布日 2021-01-26
分類號 G11C29/18(2006.01)I; 分類 信息存儲;
發(fā)明人 賴俊生;曾理 申請（專利權(quán)）人 皇虎測試科技（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 成都頂峰專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王偉
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)科技北二路25號航天微電機大廈B座二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及內(nèi)存測試技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種支持DRAM x16顆粒的測試方法及裝置、DRAM存儲器的測試設(shè)備，所述方法包括：關(guān)閉Bank XOR Enable，計算所述DRAM x16顆粒的內(nèi)存容量，同時對DRAM x16顆粒建立地址映射；設(shè)置頁屬性，將Cache屬性關(guān)閉，建立內(nèi)存頁表；訪問所述DRAM x16顆粒Bank Group低位的地址空間，獲取所述DRAM x16顆粒的內(nèi)存錯誤信息。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對DRAM x16顆粒類型進行檢測，并獲取DRAM x16顆粒類型的錯誤信息，進而提高了DRAM存儲器的使用性能。??