支持DRAMx16顆粒的測試方法及裝置、DRAM存儲器的測試設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011193104.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112270948B 公開（公告）日 2021-12-28
申請公布號 CN112270948B 申請公布日 2021-12-28
分類號 G11C29/18（2006.01）I;G11C11/401（2006.01）I;G06F11/22（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 賴俊生;曾理 申請（專利權）人 皇虎測試科技（深圳）有限公司
代理機構 成都頂峰專利事務所（普通合伙） 代理人 王偉
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)科技北二路25號航天微電機大廈B座二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及內存測試技術領域，公開了一種支持DRAM x16顆粒的測試方法及裝置、DRAM存儲器的測試設備，所述方法包括：關閉Bank XOR Enable，計算所述DRAM x16顆粒的內存容量，同時對DRAM x16顆粒建立地址映射；設置頁屬性，將Cache屬性關閉，建立內存頁表；訪問所述DRAM x16顆粒Bank Group低位的地址空間，獲取所述DRAM x16顆粒的內存錯誤信息。本發(fā)明能夠實現對DRAM x16顆粒類型進行檢測，并獲取DRAM x16顆粒類型的錯誤信息，進而提高了DRAM存儲器的使用性能。