一種內存顆粒多維測試方法、裝置、系統(tǒng)和可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110700133.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113254290A 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN113254290A 申請公布日 2021-08-13
分類號 G06F11/22 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 賴俊生;王愛華 申請（專利權）人 皇虎測試科技（深圳）有限公司
代理機構 成都頂峰專利事務所（普通合伙） 代理人 胡慶波
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)科技北二路25號航天微電機大廈B座二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于內存測試技術領域，公開了一種內存顆粒多維測試方法、裝置、系統(tǒng)和可讀存儲介質，包括：在測試板兩面的內存顆粒插槽中同時裝載多個待測試內存顆粒，以使所述多個待測試內存顆粒以多Rank顆粒組合形式運行；將所述多Rank顆粒的測試環(huán)境設置為重負載模式下的測試環(huán)境；基于算法對所述多Rank顆粒進行ATE和/或SLT測試，并獲取錯誤顆粒單元的物理地址。本發(fā)明能夠將“有負載才失效"、"內存顆?；ハ喔蓴_"等由于多Rank顆粒組合形式引起的問題在產(chǎn)品SMT(SurfaceMountingTechnology，表面組裝技術)前篩選出來，提高了內存顆粒電性能負載壓力測試的能力，進而提高了內存顆粒測試的效能。