微波暗室及相應(yīng)的天線測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201721635890.9 申請日 -
公開（公告）號 CN207502620U 公開（公告）日 2018-06-15
申請公布號 CN207502620U 申請公布日 2018-06-15
分類號 G01R29/10;G01R23/16;G01R1/04;G01S7/40 分類 測量；測試;
發(fā)明人 史文虎;楊寧;譚維耿 申請（專利權(quán)）人 中國銀行股份有限公司上海市浦東開發(fā)區(qū)支行
代理機構(gòu) 上海智信專利代理有限公司 代理人 上海英恒電子有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張衡路1000弄潤和國際68號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種微波暗室及相應(yīng)的天線測試系統(tǒng)，包括微波箱、輔助天線部分和待測天線部分，且所述的輔助天線部分和待測天線部分均具有可保持變量單一化的夾持機構(gòu)，且所述的輔助天線部分和所述的待測天線部分都設(shè)置于箱體內(nèi)部，微波箱為一覆蓋有吸波材料的微波箱。本實用新型可用于遠場測試，針對毫米波頻段，由于其具有能夠保持變量的單一性的輔助天線夾持機構(gòu)和待測天線夾持機構(gòu)，可以保證待測天線和輔助天線在測量過程中變化的變量可控，最大程度的保證了測試的單一變量原則及待測天線、輔助天線的穩(wěn)定。因此，可針對不同的天線板使用，十分方便快捷，且節(jié)省空間，同時測量精度更高，并可通過調(diào)整不同的結(jié)構(gòu)件可以測量各種形狀的天線。