一種用于電化學發(fā)光檢測的磁珠改性標記方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110497459.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112986349B | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請公布號 | CN112986349B | 申請公布日 | 2021-08-03 |
分類號 | G01N27/26(2006.01)I;G01N21/76(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 楊志偉;劉錚;胡春苗 | 申請(專利權)人 | 江蘇集萃分子工程研究院有限公司 |
代理機構 | 蘇州瞪羚知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 張宇 |
地址 | 215500江蘇省蘇州市常熟市高新技術開發(fā)區(qū)賢士路88號6-7幢202 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于電化學發(fā)光檢測的磁珠改性標記方法,屬于電化學檢測材料技術領域。所述的磁珠改性標記方法,特征步驟為:1)將羥基被保護基PG保護的羥基酸活化酯和帶有反應基團X的酸的活化酯,與氨基磁珠表面的氨基通過成酰胺鍵反應,將氨基磁珠表面的氨基完全反應掉形成改性氨基磁珠(I);2)將改性氨基磁珠(I)進行脫羥基保護基PG游離出羥基,得到表面是部分羥基和部分反應基團X的磁珠(II);3)將被反應基團Y修飾的蛋白質分子鏈霉親和素SA與磁珠表面的X基團進行標記反應得到用于電化學發(fā)光檢測的磁珠;所述反應基團Y與反應基團X能夠形成化學鍵。本發(fā)明標記后的磁珠可以明顯改善通電后磁珠清洗后的殘留。 |
