一種電子元器件外觀測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022264604.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214132847U 公開(kāi)（公告）日 2021-09-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN214132847U 申請(qǐng)公布日 2021-09-07
分類號(hào) B07C5/34（2006.01）I;B07C5/342（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;G01D21/00（2006.01）I;G01N21/84（2006.01）I;G01N27/90（2021.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 陳偉;徐勇;葉建國(guó);韓宙 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江陰亨德拉科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 江陰市輕舟專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 曹鍵
地址 214400江蘇省無(wú)錫市江陰市高新區(qū)澄山路609號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電子元器件外觀測(cè)試裝置，包括底板，所述底板上設(shè)置有自前至后依次布置的外觀檢測(cè)機(jī)構(gòu)、渦流檢測(cè)機(jī)構(gòu)和分料機(jī)構(gòu)，所述外觀檢測(cè)機(jī)構(gòu)和渦流檢測(cè)機(jī)構(gòu)的上方設(shè)置有抓料機(jī)構(gòu)，所述抓料機(jī)構(gòu)用以將產(chǎn)品抓送至外觀檢測(cè)機(jī)構(gòu)中進(jìn)行外觀檢測(cè)，并將外觀檢測(cè)之后的產(chǎn)品抓送至渦流檢測(cè)機(jī)構(gòu)中進(jìn)行性能檢測(cè)，所述分料機(jī)構(gòu)用以將性能檢測(cè)之后的產(chǎn)品進(jìn)行分類收集。本實(shí)用新型一種電子元器件外觀測(cè)試裝置具有減小外觀測(cè)試誤差、提高工作效率、降低人工成本的優(yōu)點(diǎn)。