一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010258297.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113496869A | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113496869A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-12 |
分類號(hào) | H01L21/02(2006.01)I;C23C16/24(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I;C23C16/458(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李小艷;張俊寶;陳猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 重慶超硅半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 400714重慶市北碚區(qū)兩江新區(qū)云漢大道5號(hào)附188號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法。所述外延基底用硅晶片之背面膜層包括:雙層膜,所述雙層膜包括直接覆蓋在硅晶片背面上的第一層,以及第一層上覆蓋的第二層;所述外延基底用硅晶片之背面膜層的制造方法包括:步驟1,將硅晶片背面朝上裝爐后,采用三步低溫高速化學(xué)氣相沉積法生長(zhǎng)第一層膜;步驟2,將經(jīng)步驟1后硅晶片正面(拋光面)朝上裝爐后,采用低壓化學(xué)氣相沉積法在第一層膜上生長(zhǎng)第二層膜。本發(fā)明的優(yōu)勢(shì)在于:提高了雙層膜的膜厚均勻性,增強(qiáng)了背面膜的背封效果,解決了因硅晶片背面膜膜厚不均勻、晶舟印、顆粒等問題對(duì)所造成的鏡面拋光不良。 |
