一種基于機器視覺的芯片角度自動旋轉(zhuǎn)校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010019540.6 申請日 -
公開（公告）號 CN101758028B 公開（公告）日 2013-04-17
申請公布號 CN101758028B 申請公布日 2013-04-17
分類號 B07C5/02(2006.01)I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 龔時華;李斌;吳濤;黃禹;李海洲;王龍文;林康華 申請（專利權(quán)）人 東莞市華科制造工程研究院有限公司
代理機構(gòu) 東莞市華南專利商標事務所有限公司 代理人 梁永宏
地址 523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科技九路1號研發(fā)樓310室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于機器視覺的芯片角度自動旋轉(zhuǎn)校正方法，包括：獲取芯片膜上芯片i的原始位置坐標Xi，Yi及偏轉(zhuǎn)角度θi；獲取芯片膜的旋轉(zhuǎn)中心位置坐標Ox，Oy；反算芯片i理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標X′i，Y′i；選取芯片膜上的芯片m，設(shè)m＝1；將芯片膜以芯片m的偏轉(zhuǎn)角度θm進行實際旋轉(zhuǎn)；獲取該芯片實際旋轉(zhuǎn)后實際位置坐標與該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標X′m，Y′m間的偏差λmx，λmy；判斷偏差λmx，λmy是否大于某一閾值，若是，則修正旋轉(zhuǎn)中心位置坐標O′x，O′y，重新反算修正后的該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標X″m，Y″m，并移動進行芯片位置校正；否則，按照該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標X′m，Y′m移動進行芯片位置校正；進行下一顆芯片角度校正。本發(fā)明能夠結(jié)合機器視覺使得芯片準確地校正，校正結(jié)果的精確性較高，從而進一步提高芯片的分選速度。