一種克服尺寸效應(yīng)的巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度評(píng)價(jià)方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201310665286.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN103644866A | 公開(kāi)(公告)日 | 2014-03-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN103644866A | 申請(qǐng)公布日 | 2014-03-19 |
分類(lèi)號(hào) | G01B11/30(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 唐輝明;葛云峰;王亮清 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 中部知光技術(shù)轉(zhuǎn)移有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 武漢華旭知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 | 代理人 | 中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢);中部知光技術(shù)轉(zhuǎn)移有限公司 |
地址 | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)魯磨路388號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種克服尺寸效應(yīng)的巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度評(píng)價(jià)方法,操作步驟為:在天然巖體結(jié)構(gòu)面上,選取具有代表性長(zhǎng)度為L(zhǎng)的大尺寸剖面,并對(duì)剖面進(jìn)行標(biāo)示;沿選定的剖面架設(shè)測(cè)量?jī)x器,在剖面上采集n條長(zhǎng)度為l的小尺寸剖面;確保采集數(shù)量n大于有效采集數(shù)量ne;對(duì)獲取的n條剖面進(jìn)行數(shù)字化;采用變量圖法計(jì)算n條剖面的分形維數(shù)D,得到n個(gè)分形維數(shù)D值;將n個(gè)分形維數(shù)D值進(jìn)行平均,獲得分形維數(shù)平均值通過(guò)來(lái)描述所選擇長(zhǎng)度為L(zhǎng)的大尺寸剖面粗糙度,實(shí)現(xiàn)以小尺寸巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度來(lái)表征大尺寸巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度,并消除尺寸效應(yīng)帶來(lái)的誤差。本發(fā)明通過(guò)測(cè)量部分巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度來(lái)評(píng)價(jià)整體巖體結(jié)構(gòu)面粗糙度,評(píng)價(jià)結(jié)果真實(shí)可靠,具有較高精度。 |
