一種克服尺寸效應的巖體結構面粗糙度測量方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201310665286.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN103644866B | 公開（公告）日 | 2014-12-24 |
| 申請公布號 | CN103644866B | 申請公布日 | 2014-12-24 |
| 分類號 | G01B11/30(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 唐輝明;葛云峰;王亮清 | 申請（專利權）人 | 中部知光技術轉移有限公司 |
| 代理機構 | 武漢華旭知識產權事務所 | 代理人 | 中國地質大學（武漢）;中部知光技術轉移有限公司 |
| 地址 | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)魯磨路388號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種克服尺寸效應的巖體結構面粗糙度評價方法，操作步驟為：在天然巖體結構面上，選取具有代表性長度為L的大尺寸剖面，并對剖面進行標示；沿選定的剖面架設測量儀器，在剖面上采集n條長度為l的小尺寸剖面；確保采集數(shù)量n大于有效采集數(shù)量ne；對獲取的n條剖面進行數(shù)字化；采用變量圖法計算n條剖面的分形維數(shù)D，得到n個分形維數(shù)D值；將n個分形維數(shù)D值進行平均，獲得分形維數(shù)平均值 |
