一種重金屬離子檢測芯片及制備方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201110074626.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN102331419A | 公開（公告）日 | 2012-01-25 |
| 申請公布號 | CN102331419A | 申請公布日 | 2012-01-25 |
| 分類號 | G01N21/76(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 聶富強 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海汶昌芯片科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201203 上海市張江高科技園區(qū)郭守敬路351號1號樓530室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種重金屬離子檢測芯片及其制備方法。該芯片重金屬離子檢測芯片將微流體驅(qū)動、表面修飾、化學(xué)識別反應(yīng)、信號處理、檢測和分析集成于小型微流控芯片上，通過待測重金屬離子和微通道表面的識別分子發(fā)生一對一的識別反應(yīng)生成新的化合物，產(chǎn)生發(fā)光信號的變化，獲得待測重金屬離子的種類和濃度信息。 |
