磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420042144.9 申請日 -
公開（公告）號 CN203811788U 公開（公告）日 2014-09-03
申請公布號 CN203811788U 申請公布日 2014-09-03
分類號 G01R33/12(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 于曉東 申請（專利權）人 宜昌東方微磁科技有限責任公司
代理機構 宜昌市三峽專利事務所 代理人 成鋼
地址 443009 湖北省宜昌市點軍區(qū)聯棚鄉(xiāng)宜昌東方微磁科技有限責任公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，包括磁場發(fā)生裝置，位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺，被測芯片放置在測試平臺上，磁場發(fā)生裝置連接電源和調壓器，磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊連接處理器裝置；被測芯片通過數據采集模塊連接處理器裝置。本實用新型一種磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)，可對芯片的磁性能進行批量的、快速的、無損的檢測。