磁性芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201420042144.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN203811788U 公開(kāi)（公告）日 2014-09-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN203811788U 申請(qǐng)公布日 2014-09-03
分類號(hào) G01R33/12(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 于曉東 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 宜昌東方微磁科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 宜昌市三峽專利事務(wù)所 代理人 成鋼
地址 443009 湖北省宜昌市點(diǎn)軍區(qū)聯(lián)棚鄉(xiāng)宜昌東方微磁科技有限責(zé)任公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 磁性芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng)，包括磁場(chǎng)發(fā)生裝置，位于磁場(chǎng)發(fā)生裝置磁場(chǎng)區(qū)域的測(cè)試平臺(tái)，被測(cè)芯片放置在測(cè)試平臺(tái)上，磁場(chǎng)發(fā)生裝置連接電源和調(diào)壓器，磁場(chǎng)發(fā)生裝置通過(guò)控制電路模塊連接處理器裝置；被測(cè)芯片通過(guò)數(shù)據(jù)采集模塊連接處理器裝置。本實(shí)用新型一種磁性芯片磁參數(shù)批量化測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)芯片的磁性能進(jìn)行批量的、快速的、無(wú)損的檢測(cè)。