磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201420042144.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN203811788U | 公開(公告)日 | 2014-09-03 |
申請公布號 | CN203811788U | 申請公布日 | 2014-09-03 |
分類號 | G01R33/12(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 于曉東 | 申請(專利權)人 | 宜昌東方微磁科技有限責任公司 |
代理機構 | 宜昌市三峽專利事務所 | 代理人 | 成鋼 |
地址 | 443009 湖北省宜昌市點軍區(qū)聯棚鄉(xiāng)宜昌東方微磁科技有限責任公司 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng),包括磁場發(fā)生裝置,位于磁場發(fā)生裝置磁場區(qū)域的測試平臺,被測芯片放置在測試平臺上,磁場發(fā)生裝置連接電源和調壓器,磁場發(fā)生裝置通過控制電路模塊連接處理器裝置;被測芯片通過數據采集模塊連接處理器裝置。本實用新型一種磁性芯片磁參數批量化測試系統(tǒng),可對芯片的磁性能進行批量的、快速的、無損的檢測。 |
