一種用于重金屬離子現(xiàn)場檢測的無動力微流控芯片及其制作和使用方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810202738.0 申請日 -
公開（公告）號 CN101435807B 公開（公告）日 2010-12-15
申請公布號 CN101435807B 申請公布日 2010-12-15
分類號 G01N31/00(2006.01)I;G01N33/48(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 樊春海;宋世平;何世江 申請（專利權(quán)）人 杭州金誠益邦科技有限公司
代理機構(gòu) 上海智信專利代理有限公司 代理人 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所;浙江納智匯生物科技有限公司
地址 201800 上海市嘉定區(qū)嘉羅公路2019號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于重金屬離子現(xiàn)場檢測的多通道無動力微流控芯片及其制作和使用方法。該微流控芯片包括基片層以及與該基片層相封接的通道片層，該通道片層包括單個或多個通道，該通道兩端分別連接有進樣孔和出樣孔；該基片層和該通道片層均由聚二甲基硅氧烷材料制成，該通道片層的厚度為8mm至20mm。該芯片的進樣方式不需外部能量，僅僅利用聚二甲基硅氧烷的存儲氣體的能力，經(jīng)過抽真空前處理就可以達到現(xiàn)場使用的效果。本微流控芯片與不同種類的納米金探針結(jié)合，適用于現(xiàn)場不同種類的重金屬離子實時快速檢測。