測試控制裝置、方法及微控制單元

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110626182.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113295957A 公開（公告）日 2021-08-24
申請公布號 CN113295957A 申請公布日 2021-08-24
分類號 G01R31/00（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I;G05B19/042（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳勛;王春陽 申請（專利權(quán)）人 基合半導體（寧波）有限公司
代理機構(gòu) 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 成麗杰
地址 315499浙江省寧波市余姚市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)城東新區(qū)冶山路
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例涉及測試技術(shù)領域，公開了一種測試控制裝置、方法及微控制單元。測試控制裝置包括：微控制單元、檢測電路和采樣單元，微控制單元用于先輸出第一電壓，并在在判定采樣電壓大于或等于預設閾值時，輸出大于或等于待測部件的供電電壓的第二電壓，以供微控制單元對待測部件進行測試。本申請根據(jù)檢測電路兩端的電壓是否大于或等于預設閾值，來判斷待測部件是否已接入測試控制裝置，并在檢測到待測部件接入測試控制裝置后，增大檢測電路的輸出電壓，以對待測部件供電，避免在檢測電路的輸出電壓較大時，將待測部件接入測試控制裝置，可以顯著減小接入過程中在待測部件內(nèi)部產(chǎn)生的瞬間脈沖，進而提升了待測部件的良品率。