一種芯片老化試驗(yàn)箱
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022595898.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN213957431U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213957431U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-13 |
| 分類號(hào) | G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 楊文祥 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州諾威特測(cè)控科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州科仁專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 郭楊 |
| 地址 | 215100江蘇省蘇州市吳中經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)吳中大道2588號(hào)21幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種芯片老化試驗(yàn)箱，包括具有高溫試驗(yàn)腔的箱體、轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述箱體上的箱門、控制單元，其特征在于，所述箱門與所述箱體之間設(shè)置有電子式門吸鎖，所述箱門與/或所述箱體上設(shè)置有通過(guò)采集高溫試驗(yàn)腔內(nèi)溫度從而控制所述電子式門吸鎖的溫度感應(yīng)裝置，所述溫度感應(yīng)裝置與控制單元輸入端電連接，通過(guò)在高溫試驗(yàn)箱上設(shè)置電子式門吸鎖，采用電子式控制方式開(kāi)關(guān)箱，使用方便；同時(shí)設(shè)置溫度感應(yīng)裝置采集高溫試驗(yàn)腔內(nèi)溫度，控制門吸鎖的開(kāi)關(guān)，對(duì)箱門開(kāi)閉設(shè)置高溫保護(hù)限制，避免在高溫狀態(tài)下打開(kāi)箱門引起對(duì)人員的燙傷，提高安全性。 |
