芯片老化試驗(yàn)箱
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022598917.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN214473477U | 公開（公告）日 | 2021-10-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN214473477U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-22 |
| 分類號(hào) | G01R1/04;G01R31/28 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 楊文祥 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州諾威特測(cè)控科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州科仁專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 郭楊 |
| 地址 | 215000 江蘇省蘇州市吳中經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)吳中大道2588號(hào)21幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種芯片老化試驗(yàn)箱，包括具有高溫試驗(yàn)腔的箱體、轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述箱體上的箱門，還包括設(shè)置在所述高溫試驗(yàn)腔正上方用于制熱的高溫制熱腔、設(shè)置于所述高溫制熱腔頂壁上的散熱系統(tǒng)，所述散熱系統(tǒng)包括固定于所述頂壁上的抽風(fēng)口、安裝于所述抽風(fēng)口處的風(fēng)門執(zhí)行器。本實(shí)用新型提供了一種芯片老化試驗(yàn)箱，其通過(guò)風(fēng)門執(zhí)行器風(fēng)閥的開閉，由鼓風(fēng)機(jī)將高溫制熱腔內(nèi)產(chǎn)生的熱量從抽熱風(fēng)管道內(nèi)抽出至室外，能快速散熱、降低箱內(nèi)的溫度,方便拿取試驗(yàn)產(chǎn)品，操作簡(jiǎn)便安全，大大加快工作效率。 |
