一種VCSEL測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911281656.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111006719A 公開（公告）日 2020-04-14
申請公布號 CN111006719A 申請公布日 2020-04-14
分類號 G01D21/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周漢川;肖黎明 申請（專利權）人 武漢光安倫光電技術有限公司
代理機構 北京匯澤知識產權代理有限公司 代理人 武漢光安倫光電技術有限公司
地址 430074湖北省武漢市東湖開發(fā)區(qū)光谷金融港B26-802
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及VCSEL參數測量技術領域，提供了一種VCSEL測量裝置，包括用于擱置芯片的測量臺，還包括架設于所述測量臺上方的支撐架、用于測量芯片的不同參數的若干參數測量組件以及用于將任一所述參數測量組件的位置調整至所述測量臺的正上方的調整機構，各所述參數測量組件均可拆卸安裝在所述調整機構上，所述調整機構安裝在所述支撐架上。本發(fā)明的通過將多個參數測量組件集成在一起，通過調整來選擇性地調整參數測量組件的位置，進而選擇性地對需要的參數進行測量，解決了現有技術中的缺陷，而且通過參數測量組件的可拆卸連接的形式，可以根據實際需要拆下當前的參數測量組件并安裝另外種類的參數測量組件，使得本測量裝置的擴展性更好且使測量更為靈活。??