一種太陽能電池板硅基片表面檢測(cè)用光學(xué)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010722330.7 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111983814A 公開(公告)日 2020-11-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN111983814A 申請(qǐng)公布日 2020-11-24
分類號(hào) G02B27/09(2006.01)I 分類 光學(xué);
發(fā)明人 邱洪榮;金浩程 申請(qǐng)(專利權(quán))人 常州市奧普泰克光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州格策知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 徐靜
地址 213000江蘇省常州市新北區(qū)羅溪鎮(zhèn)旺財(cái)路10號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種太陽能電池板硅基片表面檢測(cè)用光學(xué)系統(tǒng),第一球面鏡的出光面與第二球面鏡的入光面為邊緣接觸式連接,第二球面鏡的出光面與第三球面鏡的入光面之間設(shè)有間距,微透鏡包括第一微透鏡和第二微透鏡,第一微透鏡和第二微透鏡的相對(duì)鏡面的Y軸方向均設(shè)有球面陣列結(jié)構(gòu)。通過上述方式,本發(fā)明采用三片球面鏡對(duì)激光光束進(jìn)行準(zhǔn)直,再經(jīng)過兩片微透鏡陣列在Y軸方向聚焦成線性光。三片球面鏡對(duì)激光發(fā)散角進(jìn)行壓縮準(zhǔn)直,微透鏡陣列在Y方向?qū)?zhǔn)直后的光束進(jìn)行會(huì)聚,而對(duì)X方向的光束進(jìn)行發(fā)散,最終在工作面上形成長度為180?200mm,寬度為0.6?0.8mm的線性光斑,相鄰微透鏡陣列之間重合光斑區(qū)域5mm,重疊光斑優(yōu)化完成均勻度在90%左右。??