一種基于核密度估計的偽裝效果評估方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811181565.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109447954A 公開（公告）日 2019-03-08
申請公布號 CN109447954A 申請公布日 2019-03-08
分類號 G06T7/00（2017.01）I; G06K9/46（2006.01）I; G06K9/62（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 宮久路; 閆磊; 諶德榮; 王鵬飛; 彭林科; 胡宏華; 陳乾 申請（專利權）人 北京航宇天穹科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 100081 北京市海淀區(qū)中關村南大街5號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于核密度估計的偽裝效果評估方法。該方法包括：自動獲取目標尺寸的背景子區(qū)域；計算圖像的特征向量并利用相似性度量方法計算樣本距離；計算核密度估計模型的參數(shù)，構建背景特征分布模型；計算目標特征在背景特征分布模型中的匹配概率，進而計算特征的識別概率；比較偽裝前后特征的識別概率來評估偽裝效果。與當前偽裝評估方法相比，本發(fā)明具有不依賴人工判讀、所需樣本數(shù)據(jù)量少、且能夠適用于當前任意識別特征等優(yōu)點。