影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200610116271.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN100447525C 公開（公告）日 2008-12-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN100447525C 申請(qǐng)公布日 2008-12-31
分類號(hào) G01B11/00(2006.01);G06K9/60(2006.01) 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 封志鳴;黃士棟;姚斌 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海量具刃具廠有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海天協(xié)和誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 上海量具刃具廠
地址 201615上海市松江九亭,松江高科技園區(qū)滄涇路200號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法，該影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量過(guò)程分對(duì)焦階段、拍攝階段、拼接階段及計(jì)算階段，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法的技術(shù)方案是對(duì)較大的一個(gè)范圍取像，保存整個(gè)圖像信息，將測(cè)量時(shí)取得的所有圖像信息進(jìn)行處理，如果進(jìn)行批量檢測(cè)可對(duì)多個(gè)工件的外形和相對(duì)位置關(guān)系做比較，從而可以任意擺放工件。同時(shí)在取點(diǎn)上現(xiàn)有技術(shù)方案如取多個(gè)點(diǎn)將對(duì)檢測(cè)時(shí)間產(chǎn)生影響，本發(fā)明的技術(shù)方案是在生成圖形后對(duì)圖形取點(diǎn)，可以任意設(shè)置取點(diǎn)數(shù)無(wú)需顧及機(jī)械定位精度和檢測(cè)時(shí)間。