影像測量儀的測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200610116271.9 申請日 -
公開（公告）號 CN101149249A 公開（公告）日 2008-03-26
申請公布號 CN101149249A 申請公布日 2008-03-26
分類號 G01B11/00(2006.01);G06K9/60(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 封志鳴;黃士棟;姚斌 申請（專利權(quán)）人 上海量具刃具廠有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海協(xié)和專利代理有限公司 代理人 上海量具刃具廠;上海量具刃具廠有限公司
地址 201615上海市松江九亭松江高科技園區(qū)滄涇路200號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種影像測量儀的測量方法，該影像測量儀的測量過程分對焦階段、拍攝階段、拼接階段及計(jì)算階段，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的影像測量儀的測量方法的技術(shù)方案是對較大的一個范圍取像，保存整個圖像信息，將測量時取得的所有圖像信息進(jìn)行處理，如果進(jìn)行批量檢測可對多個工件的外形和相對位置關(guān)系做比較，從而可以任意擺放工件。同時在取點(diǎn)上現(xiàn)有技術(shù)方案如取多個點(diǎn)將對檢測時間產(chǎn)生影響，本發(fā)明的技術(shù)方案是在生成圖形后對圖形取點(diǎn)，可以任意設(shè)置取點(diǎn)數(shù)無需顧及機(jī)械定位精度和檢測時間。