一種基于磁頭芯片智能測試系統(tǒng)的測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710118670.7 申請日 -
公開（公告）號 CN106872880B 公開（公告）日 2019-11-19
申請公布號 CN106872880B 申請公布日 2019-11-19
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭龍吉 申請（專利權）人 吉安市井開區(qū)吉軍科技有限公司
代理機構 北京成實知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 陳永虔
地址 224006 江蘇省鹽城市鹽都區(qū)鹽龍街道智能終端創(chuàng)業(yè)園二期S-19棟C(D)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明的一種基于磁頭芯片智能測試系統(tǒng)的測試方法，中央處理器與外部的PC上位機相連，中央處理器同時連接測試平臺，測試平臺上包括電路機構和機械機構，電路機構包括電源模塊，電源模塊連接中央處理器，機械機構包括機械臂、機械轉盤和機械下壓塊，電源模塊一端連中央處理器，另一端輸出電源至機械轉盤，機械臂、機械轉盤和機械下壓塊分別與中央處理器相連，機械轉盤上設有測試座，測試座中設有IC卡槽，IC卡槽底部設有探針；測試平臺上設有光敏傳感器、距離傳感器以及揚聲器、紅綠雙色指示燈。本發(fā)明具有提高芯片測試過程的工作效率和可靠性的積極效果。