一種基于磁頭芯片智能測試系統(tǒng)的測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710118670.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN106872880B | 公開(公告)日 | 2019-11-19 |
申請公布號 | CN106872880B | 申請公布日 | 2019-11-19 |
分類號 | G01R31/28 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 郭龍吉 | 申請(專利權(quán))人 | 吉安市井開區(qū)吉軍科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京成實(shí)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳永虔 |
地址 | 224006 江蘇省鹽城市鹽都區(qū)鹽龍街道智能終端創(chuàng)業(yè)園二期S-19棟C(D) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明的一種基于磁頭芯片智能測試系統(tǒng)的測試方法,中央處理器與外部的PC上位機(jī)相連,中央處理器同時連接測試平臺,測試平臺上包括電路機(jī)構(gòu)和機(jī)械機(jī)構(gòu),電路機(jī)構(gòu)包括電源模塊,電源模塊連接中央處理器,機(jī)械機(jī)構(gòu)包括機(jī)械臂、機(jī)械轉(zhuǎn)盤和機(jī)械下壓塊,電源模塊一端連中央處理器,另一端輸出電源至機(jī)械轉(zhuǎn)盤,機(jī)械臂、機(jī)械轉(zhuǎn)盤和機(jī)械下壓塊分別與中央處理器相連,機(jī)械轉(zhuǎn)盤上設(shè)有測試座,測試座中設(shè)有IC卡槽,IC卡槽底部設(shè)有探針;測試平臺上設(shè)有光敏傳感器、距離傳感器以及揚(yáng)聲器、紅綠雙色指示燈。本發(fā)明具有提高芯片測試過程的工作效率和可靠性的積極效果。 |
