具有AlN的發(fā)光二極管外延片的制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110529500.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113481593A | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113481593A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-08 |
分類號(hào) | C30B23/02(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I;H01L33/12(2010.01)I;H01L33/14(2010.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 洪威威;王倩;梅勁;董彬忠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 華燦光電(浙江)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 呂耀萍 |
地址 | 322000浙江省金華市義烏市蘇溪鎮(zhèn)蘇福路233號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本公開提供了一種具有AlN的發(fā)光二極管外延片的制備方法,屬于發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域。交替在襯底的表面濺射第一AlN膜與第二AlN膜以最終形成AlN緩沖層。并且濺射第一AlN膜時(shí)的靶間距為第一靶間距,濺射第二AlN膜時(shí)的靶間距為第二靶間距,第一靶間距大于第二靶間距。較大的第一靶間距濺射得到的第一AlN膜的厚度與均勻性會(huì)較好。較小的第二靶間距濺射第二AlN膜的速度會(huì)較快,提高第二AlN膜的沉積速率。而交替得到的第一AlN膜與第二AlN膜的內(nèi)部應(yīng)力得到釋放,AlN緩沖層的整體質(zhì)量得到提高,并且AlN緩沖層的生長速率也得到提高。降低發(fā)光二極管外延片的制備周期的同時(shí)有效提高發(fā)光二極管外延片的晶體質(zhì)量。 |
