一種利用高純電子級六氟丁二烯的半導(dǎo)體器件蝕刻方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110746524.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113257671B | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
申請公布號 | CN113257671B | 申請公布日 | 2021-10-12 |
分類號 | H01L21/311(2006.01)I;B01D53/04(2006.01)I;B01D53/26(2006.01)I;B01D53/28(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 甘華平;秦遠(yuǎn)望;李濤;陳躍 | 申請(專利權(quán))人 | 浙江陶特容器科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 何俊 |
地址 | 314400浙江省嘉興市海寧市周王廟鎮(zhèn)之江路30號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,公開了一種利用高純電子級六氟丁二烯的半導(dǎo)體器件蝕刻方法,包括以下步驟:將聚丙烯酰胺交聯(lián)網(wǎng)絡(luò)接枝到C型硅膠的孔壁上,制得吸水量響應(yīng)型硅膠;對六氟丁二烯原料氣依次進(jìn)行吸水量響應(yīng)型硅膠吸附除雜、輕組分精餾、重組分精餾后,獲得高純電子級六氟丁二烯;在半導(dǎo)體基底上形成絕緣層,在絕緣層上形成圖案化掩模層,使含有高純電子級六氟丁二烯的蝕刻氣體形成等離子體后,利用等離子體對絕緣層進(jìn)行干蝕刻。本發(fā)明所采用的吸水量響應(yīng)型硅膠能利用孔內(nèi)交聯(lián)網(wǎng)絡(luò)的吸水溶脹特性,使吸附初期和后期均具有較高的吸水速率,從而降低高純電子級六氟丁二烯中的水含量,防止其在蝕刻后對半導(dǎo)體器件的性能造成影響。 |
