一種檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)任意波長(zhǎng)光學(xué)參數(shù)的方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110186511.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112985776A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112985776A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-18 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01M11/02 | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張齊元;王芳;韓森;王浩宇;朱大勇 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海德昭知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 郁旦蓉 |
| 地址 | 215164 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)仁愛(ài)路150號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)任意波長(zhǎng)光學(xué)參數(shù)的方法，屬于光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，用于檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的多波長(zhǎng)的光學(xué)參數(shù)，其特征在于，包括以下步驟：步驟S1，采用光學(xué)儀器分別對(duì)所述光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)獲得所述光學(xué)系統(tǒng)在R種波長(zhǎng)分別為λ1～λr的參考光學(xué)參數(shù)f（λ1）、f（λ2）、······f（λr）；步驟S2，將步驟S1得到的所述光學(xué)參數(shù)帶入公式：式中，當(dāng)D＝0時(shí)（即只有前3項(xiàng)時(shí)）R≥3，當(dāng)D≠0時(shí)R≥4，n≥max{X1,X2}，計(jì)算參數(shù)A、B、C以及D的值；步驟S3，將計(jì)算得到的A、B、C以及D帶入公式中，計(jì)算波長(zhǎng)為λm的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)。 |
