一種太陽能硅片的激光檢測機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121378608.X 申請日 -
公開（公告）號 CN216015301U 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN216015301U 申請公布日 2022-03-11
分類號 H01L21/67（2006.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L31/18（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 陳春芙;蘇金財;孟智增 申請（專利權）人 廣東科隆威智能裝備股份有限公司
代理機構 深圳市千納專利代理有限公司 代理人 陳培瓊
地址 523000廣東省東莞市寮步鎮(zhèn)塘唇金富西路11號2棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種太陽能硅片的激光檢測機構，包括底板、檢測相機、上支架、下支架、安裝擋板和加熱激光頭，上支架固定在底板的一側，檢測相機安裝在上支架的頂部，底板上設置有觀察口，檢測相機位于觀察口的正上方，下支架固定在底板上，安裝擋板固定在下支架靠近觀察口的一側，安裝擋板上鉸接有旋轉軸，旋轉軸上固定有激光塊，加熱激光頭固定在激光塊上，加熱激光頭指向觀察口。該太陽能硅片的激光檢測機構利用激光照射增加太陽能硅片上的熱量，在相機進行拍攝成像時，相對于普通的直接拍攝而言，能夠拍到隱裂的痕跡，比肉眼檢測效率更高，適合使用在太陽能硅片的生產(chǎn)制造上。