光纖干涉儀臂長差測試系統(tǒng)及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010320496.6 申請日 -
公開（公告）號 CN111551198A 公開（公告）日 2020-08-18
申請公布號 CN111551198A 申請公布日 2020-08-18
分類號 G01D5/353(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 葉蕾;葉青;蔡海文;翟榮輝;王照勇;盧斌 申請（專利權）人 上海中科神光光電產(chǎn)業(yè)有限公司
代理機構 上海恒慧知識產(chǎn)權代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 中國科學院上海光學精密機械研究所;上海中科神光光電產(chǎn)業(yè)有限公司
地址 201800上海市嘉定區(qū)清河路390號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于隨機相位噪聲分離技術的光纖干涉儀臂長差測試系統(tǒng)及測試方法，該系統(tǒng)包括：掃描激光器、單頻激光器、測試光路、待測光纖干涉儀、信號采集模塊、信號處理系統(tǒng)。測試光路是由1個2*2光纖耦合器，1個光纖環(huán)形器，2個波分復用器(WDM)組成；待測光纖干涉儀為1副邁克遜干涉儀，由1個2*2光纖耦合器、1卷光纖線圈和2個法拉第反射鏡組成；信號采集模塊功能主要包括光電轉換，模擬信號采集和信號模數(shù)轉換；信號處理系統(tǒng)功能包括掃數(shù)據(jù)采集模塊控制、光纖干涉儀臂長差數(shù)字信號處理。本發(fā)明能在噪聲和振動環(huán)境下實現(xiàn)光纖干涉儀臂長差的高精度測試。??