一種制作InSb紅外探測器的材料結(jié)構(gòu)及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910074399.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109817754A | 公開(公告)日 | 2019-05-28 |
申請公布號 | CN109817754A | 申請公布日 | 2019-05-28 |
分類號 | H01L31/105(2006.01)I; H01L31/0352(2006.01)I; H01L31/0304(2006.01)I; H01L31/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張楊; 趙曉蒙 | 申請(專利權(quán))人 | 中科芯電半導(dǎo)體科技(北京)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京同輝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 孫艷敏;張曉斐 |
地址 | 100076 北京市大興區(qū)西紅門鎮(zhèn)金盛大街2號院23號樓二層(中科芯電) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種制作InSb紅外探測器的材料結(jié)構(gòu)及其制備方法,該材料結(jié)構(gòu)包括襯底、以及在襯底上依次生長的防漏電緩沖層、n型InSb重?fù)诫s層、InSb本征吸收層、p型InSb輕摻雜層、p型AlInSb勢壘層和p型InSb重?fù)诫s層。制備方法是在襯底上采用MBE的方法依次生長防漏電緩沖層、n型InSb重?fù)诫s層等。本發(fā)明通過防漏電緩沖層減少了InSb的缺陷密度和漏電流,采用p型重?fù)诫s勢壘層,降低了InSb紅外探測器的在反偏電壓下的暗電流和工作時的噪聲電流,提高了探測率和最高工作溫度。 |
