應(yīng)用于VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的光致發(fā)光測(cè)試的逐層刻蝕方法及其VCSEL結(jié)構(gòu)外延片
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811563848.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN109507006B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-09-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN109507006B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-28 |
分類(lèi)號(hào) | G01N1/32(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;H01S5/343(2006.01)I;H01S5/183(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 張楊;李弋洋 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 中科芯電半導(dǎo)體科技(北京)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京同輝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張素紅 |
地址 | 100076北京市大興區(qū)西紅門(mén)鎮(zhèn)金盛大街2號(hào)院23號(hào)樓二層(中科芯電) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了應(yīng)用于VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的光致發(fā)光測(cè)試的逐層刻蝕方法及其VCSEL結(jié)構(gòu)外延片,逐層刻蝕方法包括以下步驟:(1)在VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的上方放置一個(gè)激光器,使所述激光器的出射光對(duì)準(zhǔn)VCSEL結(jié)構(gòu)外延片;(2)調(diào)節(jié)所述激光器照射在所述VCSEL結(jié)構(gòu)外延片上的光斑直徑為1.5?2.5mm,調(diào)節(jié)所述激光器的輸出功率為500W;(3)所述激光器對(duì)所述VCSEL結(jié)構(gòu)外延片進(jìn)行激光刻蝕,待所述VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的刻蝕深度到達(dá)3?5μm后,停止激光刻蝕。VCSEL結(jié)構(gòu)外延片,所述VCSEL結(jié)構(gòu)外延片上的刻蝕區(qū)域是直徑為1.5?2.5mm的圓形,所述VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的刻蝕深度為3?5μm。 |
