芯片測試方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110267466.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113203935A 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN113203935A 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 梁小江;連光;陸鉞;蒲莉娟 申請（專利權）人 江西創(chuàng)成微電子有限公司
代理機構 深圳市君之泉知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 呂戰(zhàn)竹
地址 343000江西省吉安市井岡山經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)火炬大道192號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種芯片測試方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質，系統(tǒng)包括上位機和測試板，測試板上搭載有基礎芯片；方法包括：建立基礎芯片與上位機之間的通信連接，并向基礎芯片下載預定的功能程序，形成待測芯片；上位機將從內(nèi)核支持文件庫和測試驗證程序庫中選擇配置的內(nèi)核支持文件和測試驗證程序，添加到固有程序模塊，形成與待測芯片對應的測試程序下發(fā)到待測芯片，并在接收到配置參數(shù)時，將配置參數(shù)生成為測試用例；待測芯片驅動測試程序和功能程序運行，并根據(jù)上位機下發(fā)的測試用例，啟動測試程序內(nèi)測試驗證程序的測試任務，對待測芯片運行功能程序實現(xiàn)的功能進行測試。本發(fā)明提高了測試代碼的生成效率，有利于快速實現(xiàn)芯片設計的完整性驗證。