三維絕對(duì)坐標(biāo)表面成像的方法和裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200680050647.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN101466998B 公開(kāi)（公告）日 2015-09-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN101466998B 申請(qǐng)公布日 2015-09-16
分類號(hào) G01B11/25(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張松;丘成桐;顧險(xiǎn)峰;王雅琳;D·魯瓦耶 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 云南恒達(dá)睿創(chuàng)三維數(shù)字科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利代理有限公司 代理人 幾何信息學(xué)股份有限公司;云南恒達(dá)睿創(chuàng)三維數(shù)字科技有限公司
地址 美國(guó)馬薩諸塞州
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于捕捉3D物體(100)的圖像的方法和相關(guān)聯(lián)裝置，該圖像編碼所述物體的至少一部分的表面幾何形狀，包括：1.將多個(gè)條紋圖(312A、314A)投影(304)到該物體上；2.捕捉(306)來(lái)自該物體的條紋圖(312B、314B)的反射中的相位變化；3.將一均勻圖像(310A)投影到該物體上；4.捕捉來(lái)自該物體的均勻圖像(310B)的反射；以及5.在逐個(gè)像素的基礎(chǔ)上組合(310)所捕捉的相位變化和所捕捉的均勻圖像反射，由此構(gòu)成該物體的全圖像表示。