三維絕對坐標(biāo)表面成像的方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200680050647.9 申請日 -
公開（公告）號 CN101466998B 公開（公告）日 2015-09-16
申請公布號 CN101466998B 申請公布日 2015-09-16
分類號 G01B11/25(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張松;丘成桐;顧險峰;王雅琳;D·魯瓦耶 申請（專利權(quán)）人 云南恒達睿創(chuàng)三維數(shù)字科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州三環(huán)專利代理有限公司 代理人 幾何信息學(xué)股份有限公司;云南恒達睿創(chuàng)三維數(shù)字科技有限公司
地址 美國馬薩諸塞州
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于捕捉3D物體(100)的圖像的方法和相關(guān)聯(lián)裝置，該圖像編碼所述物體的至少一部分的表面幾何形狀，包括：1.將多個條紋圖(312A、314A)投影(304)到該物體上；2.捕捉(306)來自該物體的條紋圖(312B、314B)的反射中的相位變化；3.將一均勻圖像(310A)投影到該物體上；4.捕捉來自該物體的均勻圖像(310B)的反射；以及5.在逐個像素的基礎(chǔ)上組合(310)所捕捉的相位變化和所捕捉的均勻圖像反射，由此構(gòu)成該物體的全圖像表示。