利用柱面反射鏡進行像散糾正的光譜儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201120145311.9 申請日 -
公開（公告）號 CN202177450U 公開（公告）日 2012-03-28
申請公布號 CN202177450U 申請公布日 2012-03-28
分類號 G01J3/02(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孟錳 申請（專利權(quán)）人 天津浩強光電工業(yè)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 300190 天津市南開區(qū)金平路華創(chuàng)大廈7樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種利用柱面反射鏡進行像散糾正的光譜儀，包括入射狹縫(1)、柱面反射鏡(2)、凹面準直反射鏡(3)、平面光柵(4)、凹面聚焦反射鏡(5)和線陣列CCD探測器(6)，入射狹縫1輸出光束，經(jīng)過柱面反射鏡(2)在Z軸方向?qū)θ肷涔馐M行適當聚焦后，光束照射到凹面準直反射鏡(3)上，變成平行光照射到平面光柵(4)上，被光柵(4)分光后的光束，照射到聚焦反射鏡(5)上，并隨后被聚焦到線陣列CCD探測器(6)上。該裝置使用柱面反射鏡聚焦，糾正光譜儀像散，在小體積的情況下，達到更高的光譜靈敏度。儀器具有體積小，價格低廉的特點。