序列變異校驗(yàn)方法和裝置、生產(chǎn)變異序列的方法和裝置及電子設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910202271.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109935275B 公開（公告）日 2021-09-07
申請公布號 CN109935275B 申請公布日 2021-09-07
分類號 G16B20/20（2019.01）I;G16B5/00（2019.01）I;G16B50/00（2019.01）I 分類 物理
發(fā)明人 周淼;荊瑞琳;杜洋;李大為;玄兆伶;王海良;肖飛 申請（專利權(quán)）人 北京安諾優(yōu)達(dá)醫(yī)學(xué)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100176北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)科創(chuàng)六街88號院8號樓2單元101室、201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 公開了一種序列變異校驗(yàn)方法、生成變異序列的方法、序列變異校正裝置、生成變異序列的裝置和電子設(shè)備。該序列變異校驗(yàn)方法包括：獲取原始序列；獲取變異信息；獲取已變異的待校驗(yàn)序列；以及，基于所述原始序列和所述變異信息校驗(yàn)所述待校驗(yàn)序列以確定所述待校驗(yàn)序列的變異是否正確。這樣，增加了變異模擬過程的可靠性。