靶材殘靶表面輪廓測試工具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022723694.5 申請日 -
公開（公告）號 CN214121042U 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號 CN214121042U 申請公布日 2021-09-03
分類號 G01B5/20（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 祝永華;李云;黃巖 申請（專利權(quán)）人 常州蘇晶電子材料有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州品益專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張?jiān)?/td>
地址 213000江蘇省常州市新北區(qū)羅溪鎮(zhèn)湯莊橋路6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種靶材殘靶表面輪廓測試工具，包括量具本體及支持件，所述量具本體包括橫桿，所述橫桿表面開設(shè)有若干通孔，若干所述通孔等間距分布成一排，每個(gè)所述通孔內(nèi)部設(shè)置有測量針，所述測量針表面設(shè)置有若干刻度線，所述測量針與通孔之間過盈配合，所述橫桿頂端設(shè)置有若干游標(biāo)尺，每個(gè)所述游標(biāo)尺分別對應(yīng)設(shè)置在通孔一側(cè)，且與橫桿固定連接。本實(shí)用新型小巧、便攜，方便在現(xiàn)場使用，同時(shí)操作簡單，使用時(shí)，只需將橫桿往下按動(dòng)，并輕輕地將測量針壓在所要測試的殘靶截面表面，測試針的高低位置就反應(yīng)殘靶高低起伏，讀取測量針上的刻度，便可記錄每根測量針位置的高低數(shù)據(jù)，進(jìn)而可以得到各測試點(diǎn)的消耗深度數(shù)據(jù)。