一種基于特征點(diǎn)局部特征剔除誤匹配特征點(diǎn)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910558251.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110427966A 公開（公告）日 2019-11-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN110427966A 申請(qǐng)公布日 2019-11-08
分類號(hào) G06K9/62（2006.01）I; G06K9/46（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 余振軍; 孫林; 夾尚豐 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 青島星科瑞升信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 266590 山東省青島市黃島區(qū)前灣港路579號(hào)山東科技大學(xué)科技園綜合樓214室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于特征點(diǎn)局部特征剔除誤匹配特征點(diǎn)方法，其包括以下步驟：SIFT特征點(diǎn)檢測(cè)，利用構(gòu)建的高斯尺度空間，進(jìn)行極值點(diǎn)檢測(cè)，獲取關(guān)鍵點(diǎn)；特征點(diǎn)匹配，基于獲取的關(guān)鍵點(diǎn)描述符信息，利用歐式距離計(jì)算第一幅圖像中的點(diǎn)距離第二幅圖像中最近距離和次近距離，最近距離越小，則匹配程度越高；基于特征點(diǎn)局部特征值剔除誤匹配特征點(diǎn)方法，采用寬松閾值的比率測(cè)試為粗剔除，剔除少量誤匹配特征點(diǎn)，保證足量匹配正確的特征點(diǎn)；分別在兩幅匹配圖像中構(gòu)建局部坐標(biāo)系，根據(jù)點(diǎn)集中匹配的特征點(diǎn)在局部坐標(biāo)系下特征值的相似度，剔除誤匹配，實(shí)現(xiàn)精剔除。本發(fā)明有效的剔除SIFT算法匹配結(jié)果中的誤匹配，可獲得準(zhǔn)確度高的點(diǎn)集。