一種VCSEL測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202023005973.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN214066470U 公開（公告）日 2021-08-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN214066470U 申請(qǐng)公布日 2021-08-27
分類號(hào) G01M11/02（2006.01）I;B65G47/04（2006.01）I;B65G47/34（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王勝利;劉振輝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 矽電半導(dǎo)體設(shè)備（深圳）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518172廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍城工業(yè)園3號(hào)廠房三樓東區(qū)、五樓中西區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種VCSEL測(cè)試系統(tǒng)。一種VCSEL測(cè)試系統(tǒng)，包括，依次設(shè)置的，上料機(jī)，用于放置待測(cè)試的VCSEL元器件；遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試機(jī)，用于對(duì)VCSEL元器件進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試；發(fā)光角度測(cè)試機(jī)，用于對(duì)VCSEL元器件進(jìn)行發(fā)光角度測(cè)試；下料機(jī)，用于放置測(cè)試后的VCSEL元器件；本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠根據(jù)對(duì)VCSEL元器件測(cè)試要求選擇不同的機(jī)器組合，從而將遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試機(jī)和/發(fā)光角度測(cè)試機(jī)替換或增加其它測(cè)試設(shè)備，從而完成對(duì)VCSEL元器件的測(cè)試要求。