一種測試探針

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021293392.2 申請日 -
公開（公告）號 CN213457048U 公開（公告）日 2021-06-15
申請公布號 CN213457048U 申請公布日 2021-06-15
分類號 G01R1/067（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉振輝;韋日文 申請（專利權(quán)）人 矽電半導(dǎo)體設(shè)備（深圳）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518172廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍城工業(yè)園3號廠房三樓東區(qū)、五樓中西區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種能夠劃破藍(lán)膜的測試探針。一種測試探針，所述測試探針設(shè)置有刀片部，所述刀片部具有導(dǎo)電性；通過該刀片部劃破藍(lán)膜，簡單可靠；解決了圓錐狀尖端的探針不便于劃破藍(lán)膜的問題。