掃描探針

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811161514.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110967525B 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN110967525B 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01Q70/08（2010.01）I;G01Q70/10（2010.01）I;G01Q70/14（2010.01）I;CN 1862308 A,2006.11.15;CN 102483429 A,2012.05.30;CN 107850621 A,2018.03.27;US 6542455 B1,2003.04.01 高思田.大長徑比臺階鎢探針制備方法研究.《計量學(xué)報》.2017,（第S1期）,47-50.;王海龍.表面等離子體光電調(diào)制器及消逝場激發(fā)表面等離子體增強拉曼散射的研究.《中國優(yōu)秀博碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫（博士）信息科技輯》.2017,（第9期）,;高思田.大長徑比臺階鎢探針制備方法研究.《計量學(xué)報》.2017,（第S1期）,47-50.;江嵩.針尖增強拉曼散射在納米結(jié)構(gòu)識別中的應(yīng)用.《中國優(yōu)秀博碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫（博士）工程科技Ⅰ輯》.2016,（第8期）,;張明倩.透射/反射式針尖增強拉曼 光譜術(shù)關(guān)鍵技術(shù)與實驗研究.《中國優(yōu)秀博碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫（博士）基礎(chǔ)科學(xué)輯》.2014,（第7期）, 分類 測量；測試;
發(fā)明人 朱振東;高思田;李偉;李適 申請（專利權(quán)）人 中國計量科學(xué)研究院
代理機構(gòu) 北京華進(jìn)京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 100029北京市朝陽區(qū)北三環(huán)東路18號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種掃描探針，所述掃描探針包括探針主體，延伸體和彎鉤部。所述延伸體設(shè)置于探針主體的一端。所述彎鉤部，設(shè)置于所述延伸體遠(yuǎn)離所述探針主體的一端。所述彎鉤部可以增加散射截面，進(jìn)而提高拉曼散射。