基于計(jì)算的光模塊消光比調(diào)試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111533292.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114216658A 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN114216658A 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 仇晨寅;陳曉鵬;周建華 申請（專利權(quán)）人 無錫市德科立光電子技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 過顧佳
地址 214000江蘇省無錫市新區(qū)科技產(chǎn)業(yè)園93號-C地塊
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于計(jì)算的光模塊消光比調(diào)試方法。其包括如下步驟：步驟1、提供待調(diào)試的光模塊；步驟2、將兩個偏置電流DAC值寫入待調(diào)試光模塊的寄存器內(nèi)；步驟3、確定發(fā)光效率η以及閾值電流Ith；步驟4、確定消光比目標(biāo)值Er、平均光功率目標(biāo)值P以及平均光功率下偏置電流Ibias；步驟5、確定低電平下功率P0以及高電平下功率P1；步驟6、確定調(diào)置電流Imod；步驟7、確定調(diào)置DAC值MOD_DAC并寫入待調(diào)試光模塊的寄存器中；步驟8、讀取待調(diào)試光模塊的當(dāng)前消光比值，并將當(dāng)前消光比大于消光比規(guī)格最小值以及消光比規(guī)格最大值比較。本發(fā)明能有效提高光模塊消光比調(diào)試效率。