一種LIV特性曲線測試設備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201921062758.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN210442472U | 公開(公告)日 | 2020-05-01 |
申請公布號 | CN210442472U | 申請公布日 | 2020-05-01 |
分類號 | G01R31/26;G01R1/04;G01M11/04 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 周穩(wěn)穩(wěn);蔣二龍;胡海亮;歐陽湘東 | 申請(專利權(quán))人 | 萊森光學(深圳)有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市港灣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 萊森光學(深圳)有限公司 |
地址 | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)沙井街道后亭茅洲山工業(yè)園工業(yè)大廈全至科技創(chuàng)新園科創(chuàng)大廈11層C | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供了一種LIV特性曲線測試設備,包括顯示器、光電轉(zhuǎn)換平臺和主設備。本實用新型技術(shù)方案積分球用于接收半導體器件的發(fā)射光,并將接收到的發(fā)射光進行光電轉(zhuǎn)換,以電信號的方式傳遞至主設備上,主設備處理積分球傳遞的電信號后,將處理數(shù)據(jù)最終傳遞至顯示器上,顯示器用于顯示所述主設備處理后的數(shù)據(jù),通過光電轉(zhuǎn)換平臺可直接測量半導體器件,減少檢測人員的勞動強度,提高檢測精準度,使后續(xù)主設備處理的數(shù)據(jù)更加精準,嚴謹。 |
