半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置(LSVCSSCI)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201930361119.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN305497565S 公開（公告）日 2019-12-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN305497565S 申請(qǐng)公布日 2019-12-17
分類號(hào) 10-05（12） 分類 -
發(fā)明人 蔣二龍; 周穩(wěn)穩(wěn); 歐陽(yáng)湘東 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 萊森光學(xué)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市港灣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 萊森光學(xué)（深圳）有限公司
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)沙井街道后亭茅洲山工業(yè)園工業(yè)大廈全至科技創(chuàng)新園科創(chuàng)大廈11層C
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置(LSVCSSCI)。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用于半導(dǎo)體器件LIV特性曲線測(cè)試。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：立體圖1。