一種非接觸卡芯片測試裝置及非接觸卡芯片

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920836854.1 申請日 -
公開（公告）號 CN209659316U 公開（公告）日 2019-11-19
申請公布號 CN209659316U 申請公布日 2019-11-19
分類號 H04B17/00（2015.01）I; G01R31/28（2006.01）I; G06K19/077（2006.01）I 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 王光春; 曾為民; 李向宏 申請（專利權(quán)）人 山東華翼微電子技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 代理人 山東華翼微電子技術(shù)股份有限公司
地址 250101 山東省濟(jì)南市高新區(qū)新濼大街1768號齊魯軟件園大廈B座B-302室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種非接觸卡芯片測試裝置及非接觸卡芯片，該測試裝置包括：通用數(shù)字測試機(jī)臺、射頻信號發(fā)生器和接觸式雙向數(shù)字通信接口，通用數(shù)字測試機(jī)臺與射頻信號發(fā)生器連接，通用數(shù)字測試機(jī)臺與接觸式雙向數(shù)字通信接口通信連接，射頻信號發(fā)生器與射頻接口通信連接。本申請的非接觸卡芯片中包括射頻接口和接觸式雙向數(shù)字通信接口，射頻接口用于獲取電源信號和時鐘信號，接觸式雙向數(shù)字通信接口用于傳輸基帶信號。通過本申請能夠提高芯片測試效率，提高測試過程中的抗干擾能力以及降低測試成本。