一種P型晶硅雙面電池退火增強(qiáng)背鈍化方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210286211.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114765234A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-07-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114765234A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-19 |
分類號(hào) | H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0216(2014.01)I;C23C16/30(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I;C23C16/42(2006.01)I;C23C16/56(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊飛飛;張波;魯貴林;趙科巍;呂愛(ài)武;張?jiān)迄i;申開(kāi)愉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 山西潞安太陽(yáng)能科技有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 太原市科瑞達(dá)專利代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 046000山西省長(zhǎng)治市高新區(qū)漳澤新型工業(yè)園區(qū) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及P型晶硅雙面太陽(yáng)能電池背鈍化領(lǐng)域。一種P型晶硅雙面電池退火增強(qiáng)背鈍化方法,按如下步驟進(jìn)行步驟一、第一次SiON膜層沉積+第一次退火,步驟二、第二次SiON膜層沉積+第二次退火,步驟三、第二次SiON膜層沉積+第三次退火,步驟四、SiN膜層沉積構(gòu),SiN膜層采用三層沉積,步驟五、第四次退火。本發(fā)明將SiON膜層進(jìn)行合理的拆分,并與退火工藝拼接,可減少SiON膜層過(guò)厚時(shí)內(nèi)部缺陷。 |
