一種基于BIM的基坑監(jiān)測測點(diǎn)快速選取方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711206860.0 申請日 -
公開（公告）號 CN108318010A 公開（公告）日 2018-07-24
申請公布號 CN108318010A 申請公布日 2018-07-24
分類號 G01C15/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 宮志群;李陽;龔益軍;張艷濤;高東波;尹仕友;張朝陽 申請（專利權(quán)）人 上海同筑信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 代理人 中建華東投資有限公司;中建隧道建設(shè)有限公司;上海同筑信息科技有限公司
地址 221000 江蘇省徐州市環(huán)城路199號中建大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于BIM的基坑監(jiān)測測點(diǎn)快速選取方法，采用以下步驟：一)建立基坑工程監(jiān)測點(diǎn)與BIM模型中基坑監(jiān)測測點(diǎn)一一對應(yīng)，二)在BIM模型的世界坐標(biāo)系O?XYZ中，建立本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1，三)確定本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1與世界坐標(biāo)系O?XYZ之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系，四)將基坑監(jiān)測測點(diǎn)在世界坐標(biāo)系O?XYZ中的坐標(biāo)值轉(zhuǎn)換為本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1中的坐標(biāo)值，用(a,b,c)表示，五)判斷基坑監(jiān)測測點(diǎn)(a,b,c)a的絕對值是否小于等于L/2，b和c的絕對值是否小于等于設(shè)定值，如果是，被選中，如果否，未被選中。本發(fā)明能夠快速批量地框選三維模型中同一剖面附近的測點(diǎn)元素。