一種基于BIM的基坑監(jiān)測(cè)測(cè)點(diǎn)快速選取方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711206860.0 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN108318010B 公開(公告)日 2022-06-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN108318010B 申請(qǐng)公布日 2022-06-24
分類號(hào) G01C15/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 宮志群;李陽(yáng);龔益軍;張艷濤;高東波;尹仕友;張朝陽(yáng) 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海同筑信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 代理人 張金亭
地址 221000 江蘇省徐州市環(huán)城路199號(hào)中建大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于BIM的基坑監(jiān)測(cè)測(cè)點(diǎn)快速選取方法,采用以下步驟:一)建立基坑工程監(jiān)測(cè)點(diǎn)與BIM模型中基坑監(jiān)測(cè)測(cè)點(diǎn)一一對(duì)應(yīng),二)在BIM模型的世界坐標(biāo)系O?XYZ中,建立本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1,三)確定本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1與世界坐標(biāo)系O?XYZ之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系,四)將基坑監(jiān)測(cè)測(cè)點(diǎn)在世界坐標(biāo)系O?XYZ中的坐標(biāo)值轉(zhuǎn)換為本地坐標(biāo)系O1?X1Y1Z1中的坐標(biāo)值,用(a,b,c)表示,五)判斷基坑監(jiān)測(cè)測(cè)點(diǎn)(a,b,c)a的絕對(duì)值是否小于等于L/2,b和c的絕對(duì)值是否小于等于設(shè)定值,如果是,被選中,如果否,未被選中。本發(fā)明能夠快速批量地框選三維模型中同一剖面附近的測(cè)點(diǎn)元素。