激光器近場測試方法及測試系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911057204.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110702384B | 公開(公告)日 | 2021-07-13 |
申請公布號 | CN110702384B | 申請公布日 | 2021-07-13 |
分類號 | G01M11/02 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 潘華東;梁志敏;周立;王俊;李泉靈;廖新勝 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州長光華芯半導(dǎo)體激光創(chuàng)新研究院有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張琳琳 |
地址 | 215163 江蘇省蘇州市高新區(qū)昆侖山路189號科技城工業(yè)坊-A區(qū)2號廠房-1-102、2號廠房-2-203 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及激光器特性測試領(lǐng)域,具體涉及一種激光器近場測試方法及測試系統(tǒng),其中,方法包括:獲取驅(qū)動電源的頻率;其中,所述驅(qū)動電源用于驅(qū)動被測激光器發(fā)光;利用所述驅(qū)動電源的頻率確定采集頻率;接收所述被測激光器在目標(biāo)點(diǎn)的近場光強(qiáng)數(shù)據(jù);其中,所述近場光強(qiáng)數(shù)據(jù)是基于所述采集頻率所采集到的;根據(jù)所述近場光強(qiáng)數(shù)據(jù),計算所述被測激光器在所述目標(biāo)點(diǎn)的光強(qiáng)。該方法可以保證待測激光器輸出周期與采樣周期一致且采樣時激光器處于輸出狀態(tài),從而保證了測試的準(zhǔn)確性。 |
