激光器近場(chǎng)測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911057204.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110702384A 公開（公告）日 2021-07-13
申請(qǐng)公布號(hào) CN110702384A 申請(qǐng)公布日 2021-07-13
分類號(hào) G01M11/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 潘華東;梁志敏;周立;王俊;李泉靈;廖新勝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州長(zhǎng)光華芯半導(dǎo)體激光創(chuàng)新研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張琳琳
地址 215163 江蘇省蘇州市高新區(qū)昆侖山路189號(hào)2棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及激光器特性測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種激光器近場(chǎng)測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)，其中，方法包括：獲取驅(qū)動(dòng)電源的頻率；其中，所述驅(qū)動(dòng)電源用于驅(qū)動(dòng)被測(cè)激光器發(fā)光；利用所述驅(qū)動(dòng)電源的頻率確定采集頻率；接收所述被測(cè)激光器在目標(biāo)點(diǎn)的近場(chǎng)光強(qiáng)數(shù)據(jù)；其中，所述近場(chǎng)光強(qiáng)數(shù)據(jù)是基于所述采集頻率所采集到的；根據(jù)所述近場(chǎng)光強(qiáng)數(shù)據(jù)，計(jì)算所述被測(cè)激光器在所述目標(biāo)點(diǎn)的光強(qiáng)。該方法可以保證待測(cè)激光器輸出周期與采樣周期一致且采樣時(shí)激光器處于輸出狀態(tài)，從而保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性。