一種基于參考標定的測溫方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011410426.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112665734A 公開（公告）日 2021-04-16
申請公布號 CN112665734A 申請公布日 2021-04-16
分類號 G01J5/52 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧宏;沈新華 申請（專利權）人 杭州新瀚光電科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州杭誠專利事務所有限公司 代理人 尉偉敏
地址 311100 浙江省杭州市余杭區(qū)東湖街道紅豐路650號52幢101室、201室、301室、401室、501室-4
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于參考標定的測溫方法及裝置，包括以下步驟：將微面陣測溫儀的光學中心與面陣測溫儀的光學中心合一；獲取大面陣中每個與微面陣對應的區(qū)域灰度方差Sx；獲取其中最小方差區(qū)域Sm，以及該區(qū)域的平均灰度Gm；獲取微面陣位置m點的溫度Tm；通過Gm和Tm計算面陣中每個像元灰度與溫度的轉(zhuǎn)換參數(shù)Fij；將每個像元的當前灰度換算成溫度值。上述技術方案將微面陣測溫儀和大面陣測溫儀結(jié)合，實時將微面陣測溫儀測量的目標物表面溫度作為面陣測溫儀的測量基準，通過找到大面陣中圖像均勻性最低處，將該處灰度與微面陣對應點的溫度做標定，取得大面陣溫度轉(zhuǎn)換的基準，從而實現(xiàn)大面陣測溫儀與微面陣測溫儀一樣的精度，大大降低了產(chǎn)品的成本。