漫反射測量中接觸壓力干擾抑制方法、裝置及測量方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201711498787.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109984725A | 公開(公告)日 | 2019-07-09 |
申請公布號 | CN109984725A | 申請公布日 | 2019-07-09 |
分類號 | A61B5/00(2006.01)I | 分類 | 醫(yī)學或獸醫(yī)學;衛(wèi)生學; |
發(fā)明人 | 王志懋; 趙丕城; 徐可欣 | 申請(專利權)人 | 天津先陽科技發(fā)展有限公司 |
代理機構 | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人 | 天津先陽科技發(fā)展有限公司 |
地址 | 300457 天津市濱海新區(qū)開發(fā)區(qū)第五大街41號B區(qū)五層6號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種漫反射測量中接觸壓力干擾抑制方法,包括:獲取接觸壓力在光譜測量中多個徑向位置處產生的干擾;選取干擾最小的徑向位置作為壓力不敏感位置,以該壓力不敏感位置為測量位置獲取光譜數(shù)據(jù),以抑制接觸壓力對光譜數(shù)據(jù)的影響。進一步提供了用于實現(xiàn)該抑制方法的裝置以及基于該抑制方法的測量方法。本發(fā)明可降低測量過程壓力波動造成的干擾,無需增加額外的壓力控制裝置,使測量結果更為可靠。 |
